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膜-基结构光热敏感凝胶膜起皱临界波长与临界应力分析
研究简报 | 更新时间:2022-09-02
    • 膜-基结构光热敏感凝胶膜起皱临界波长与临界应力分析

    • Study of the Critical Wavelength and Critical Stress of Wrinkling of Thin Photo-thermal Sensitive Hydrogel Film on Elastic Substrate

    • 高分子通报   2019年32卷第5期 页码:51-58
    • 作者机构:

      1.三明学院 机电工程学院,三明 365004

      2.装备智能控制福建省高校重点实验室,三明 365004

    • 作者简介:

      *颜慧贤,博士,副教授,主要从事软物质力学的研究。E-mail: yanhx1982@126.com.

    • DOI:10.14028/j.cnki.1003-3726.2019.05.007    

      中图分类号:
    • 纸质出版日期:2019-05-20

      收稿日期:2018-08-04

      修回日期:2019-01-30

    扫 描 看 全 文

  • 颜慧贤, 魏茂金, 姚豪杰. 膜-基结构光热敏感凝胶膜起皱临界波长与临界应力分析[J]. 高分子通报, 2019,32(5):51-58. DOI: 10.14028/j.cnki.1003-3726.2019.05.007.

    Hui-xian YAN, Mao-jin WEI, Hao-jie YAO. Study of the Critical Wavelength and Critical Stress of Wrinkling of Thin Photo-thermal Sensitive Hydrogel Film on Elastic Substrate[J]. Polymer Bulletin, 2019,32(5):51-58. DOI: 10.14028/j.cnki.1003-3726.2019.05.007.

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